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ICP全谱光谱仪工作原理和构成
点击次数:281 发布时间:2017-08-10
ICP全谱光谱仪以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上进行强度测定。
 
ICP全谱光谱仪工作原理
光谱分析方法作为一种重要的分析手段,在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱,还是荧光光谱,拉曼光谱,获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围,高光谱分辨率,自动波长扫描,完整电脑控制功能,极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统,使用ICP全谱光谱仪已成为光谱研究的首选。
在光谱学应用中,获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源、颜色玻璃和干涉滤光片外,大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪,在连续的宽波长范围选出窄光谱辐射。
 
ICP全谱光谱仪构成
ICP全谱光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。
包括以下几个主要部分:
1.入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2.准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上,如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3.色散元件: 通常采用光栅,使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4.聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像,其中每一像点对应于一特定波长。
5.探测器阵列:放置于焦平面,用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或其它种类的光探测器阵列。